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Le CEM installe la Mitutoyo LEGEX TAKUMI pour la métrologie au nanomètre

L’institut national de métrologie espagnol renforce la mesure tridimensionnelle traçable pour l’aéronautique, l’automobile et l’étalonnage médical.

  www.mitutoyo.eu

Le CEM installe la Mitutoyo LEGEX TAKUMI pour la métrologie au nanomètre
Mitutoyo Legex 574. Installée en mars 2025.

Le Centro Español de Metrología (CEM) a installé une machine à mesurer tridimensionnelle Mitutoyo LEGEX TAKUMI (MMT/CMM), devenant ainsi le premier client européen à déployer le système LEGEX. Cette machine vise à renforcer la métrologie dimensionnelle de haute précision pour les besoins nationaux de référence et pour la demande industrielle en étalonnage, notamment dans l’aéronautique, l’automobile et les applications médicales.

Le CEM est un organisme indépendant rattaché au ministère espagnol de l’Industrie et du Tourisme. Il est responsable du maintien des étalons nationaux des unités de mesure et soutient le réseau de laboratoires d’étalonnage du pays. À ce titre, le CEM réalise chaque année des milliers d’étalonnages assurant la traçabilité métrologique de l’industrie espagnole, avec un soutien mentionné à la compétitivité industrielle dans plus de 54 pays.

Une MMT spécifiée pour une faible erreur en mode absolu
L’installation de la LEGEX 574 TAKUMI est présentée comme une étape vers des mesures à plus faible incertitude en métrologie tridimensionnelle, avec une spécification machine indiquée : MPE E0 = (0,23 + 0,7L/1000) µm. L’acquisition élargit également la gamme de mesures que le CEM peut réaliser au sein de son infrastructure de métrologie des longueurs.

En tant qu’institut national de métrologie, le CEM participe à des comparaisons internationales dans le cadre de l’Arrangement de reconnaissance mutuelle du CIPM (CIPM-MRA). Ce contexte est déterminant, car les performances, la répétabilité et la stabilité d’une MMT influencent directement la capacité d’un laboratoire à soutenir des comparaisons très exigeantes avec une incertitude traçable.

Un achat orienté vers le contrôle des incertitudes et l’automatisation
Le CEM décrit son processus d’acquisition comme fondé sur des critères techniques, avec des choix établis sur une base objective. Le communiqué met en avant la nécessité de contrôler toutes les variables influençant la mesure, de minimiser leur impact afin d’atteindre l’incertitude d’étalonnage la plus faible possible, et d’assurer une longue durée de vie opérationnelle. Les capacités de programmation, l’automatisation et la gestion des données métrologiques sont décrites comme des facteurs qualitatifs essentiels, au même titre que le niveau d’assistance du fabricant et la garantie.

Dans ce cadre, la MITUTOYO LEGEX 574 TAKUMI a été retenue pour ses paramètres techniques, ses fonctions d’automatisation et ses caractéristiques de gestion des données, avec un support technique dédié.

Longévité des systèmes Mitutoyo déjà en service
L’institut mentionne également des équipements Mitutoyo plus anciens, utilisés sur de longues périodes pour des tâches d’étalonnage de haut niveau. Parmi les exemples cités figure la Mitutoyo Ultra Quick Vision 350 Pro (2005), avec une incertitude annoncée inférieure à 0,5 µm, toujours en service et utilisée pour l’étalonnage d’étalons de haute précision. Un autre instrument mentionné est la Mitutoyo Roundtest RA-5100 CNC (2008), donnée avec une résolution de 1 nm et utilisée pour l’évaluation de la sphéricité de sphères étalons, avec une incertitude annoncée inférieure à 10 nm. Ces références servent à étayer les exigences de fiabilité et de stabilité dans les workflows d’un laboratoire national.


Le CEM installe la Mitutoyo LEGEX TAKUMI pour la métrologie au nanomètre
Mitutoyo Ultra Quick Vision 350 Pro, dont l'incertitude est inférieure à 0,5 μm. Installée au CEM en 2005.

Une installation centrée sur la stabilité environnementale et la validation
Le déploiement de la première LEGEX chez un client européen a nécessité une coordination entre les équipes techniques de Mitutoyo, le distributeur espagnol Sariki et les équipes du CEM. Le processus a inclus la préparation de l’environnement de mesure pour assurer la stabilité thermique, un positionnement et une mise à niveau au micromètre, puis l’étalonnage initial, la formation et la validation opérationnelle.

Après la mise en service, le CEM indique que la machine a répondu à ses exigences en matière de précision, de répétabilité et de stabilité — des paramètres qui déterminent si un système de mesure peut être utilisé pour des étalonnages de référence à l’échelle nationale plutôt que pour de simples contrôles de routine.

Mesures sans surveillance pour réduire la variabilité et les délais
L’automatisation est présentée comme un facteur stratégique pour un laboratoire réalisant des centaines d’étalonnages par an, car elle réduit l’influence de l’opérateur sur les résultats et diminue le temps nécessaire à la mesure. Le communiqué relie cet aspect à un enjeu de service concret : réduire la durée pendant laquelle l’équipement du client, soumis à contrôle, reste indisponible.

Dans ce contexte, la LEGEX TAKUMI est décrite comme permettant des mesures sans surveillance grâce à une programmation avancée, avec l’objectif de réduire les sources d’erreur, d’augmenter le débit sans dégradation de la précision, d’assurer une traçabilité complète des données et d’optimiser les ressources du laboratoire. Ces capacités sont jugées particulièrement pertinentes pour les clients du CEM, notamment les laboratoires accrédités, les centres de recherche et les entreprises industrielles.


Le CEM installe la Mitutoyo LEGEX TAKUMI pour la métrologie au nanomètre
Mitutoyo Roundtest RA-5100 CNC, pour déterminer la circularité de sphères standard avec une incertitude inférieure à 10 nm. Installée en 2008.

La précision au nanomètre dépend aussi des conditions de laboratoire
Le texte souligne que l’atteinte d’une précision tridimensionnelle au nanomètre en mode absolu repose non seulement sur la conception de la machine et sa faible erreur maximale, mais aussi sur l’environnement contrôlé du laboratoire, qui réduit les perturbations externes, ainsi que sur l’automatisation qui limite la variabilité liée à l’opérateur. En termes métrologiques, l’enjeu est systémique : les performances de la MMT, le contrôle environnemental et la discipline procédurale déterminent l’incertitude réellement démontrable.

Renforcer la position de l’Espagne dans les comparaisons européennes
Avec la LEGEX TAKUMI, le CEM se positionne pour des comparaisons plus exigeantes dans le cadre du CIPM-MRA et pour des travaux de mesure nécessitant une incertitude réduite. Pour les chaînes industrielles d’étalonnage, des améliorations au niveau de la référence nationale se répercutent généralement via les laboratoires accrédités jusqu’aux utilisateurs finaux, renforçant la traçabilité dimensionnelle dans les secteurs manufacturiers où les tolérances continuent de se resserrer.

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