La plateforme SiPM dToF LiDAR d'ON Semiconductor fournit un modèle de conception prêt à l'emploi pour les applications de télémétrie industrielles

Plateforme proposant un LiDAR temps-de-vol direct, s'appuyant l'expertise d'ON Semiconductor dans le domaine des photomultiplicateurs silicium (SiPM).

ON Semiconductor (Nasdaq : ON), à l'origine de nombreuses innovations en matière d'efficacité énergétique, a présenté une solution LiDAR temps-de-vol direct (dToF) à point unique, s’appuyant sur la technologie de photomultiplicateur silicium (SiPM) de la société.

Les applications de télémétrie par de détection d’impulsion de lumière et, ou LiDAR, se développent dans tous les secteurs, notamment dans la robotique et la détection de proximité industrielle, où une précision de télémétrie de l'ordre du millimètre est indispensable. Cette technologie est basée sur la méthode dToF, qui mesure le temps nécessaire à une impulsion de lumière, pour atteindre un objet et revenir.

Même si le principe est simple, son application peut présenter des difficultés, par exemple en raison de facteurs environnementaux comme des niveaux de lumière naturelle élevés. Pour déterminer la distance avec précision, le récepteur doit capter la plus grande partie possible du signal retour. Les photodiodes traditionnelles sont alors à la peine, au niveau temps de réponse et sensibilité. Le capteur photomultiplicateur au silicium (SiPM), développé par ON Semiconductor, comble ces lacunes en offrant des temps de réponse plus rapides et un rendement de détection élevé. La plateforme de référence utilise la série RB, deuxième génération de capteurs SiPM d'ON Semiconductor, qui offrent des performances améliorées dans le rouge et dans l'IR proche.

La plateforme LiDAR dToF SiPM développée par ON Semiconductor est une solution de LiDAR ponctuel complète et à faible coût, que les équipementiers peuvent adapter et mettre en production pour créer des applications de télémétrie industrielles. Elle comprend la diode laser NIR, le capteur et l'optique SiPM, ainsi que le système de traitement numérique nécessaire pour convertir les signaux temperels détectés et les convertir en distance.

Une interface graphique sur PC est également accessible, qui permet de visualiser sous forme graphique les mesures effectuées au cours du temps. Les histogrammes générés fournissent des preuves supplémentaires des capacités du système dans le cas d'applications telles que la télémétrie, la détection de collision ou la cartographie 3D.

Pour permettre à ses clients d'accélérer la commercialisation de leurs produits, ON Semiconductor met à leur disposition toutes les données de conception de sa plateforme de référence, ce qui comprend les schémas, la nomenclature (BoM), les fichiers Gerber, et les fichiers de conception de circuit imprimé.

« La télémétrie LiDAR dToF répond à un besoin essentiel de nombreuses applications, allant de la navigation autonome à la surveillance en passant par la cartographie. Cependant, le développement d'un tel système à base LiDAR dToF peut s'avérer complexe, » explique Wiren Perera, à la tête de l'IoT chez ON Semiconductor. « Cette plate-forme démontre clairement l'efficacité de cette technologie de pointe. Disposer d'un modèle éprouvé permet à nos clients d'obtenir une preuve de concept beaucoup plus rapidement, et de commercialiser leur produit plus vite. »

La plateforme LiDAR dToF SiPM peut détecter des objets à des distances comprises entre 10 cm et 23 m. Elle offre une expérience prête-à-l'emploi grâce à l'interface graphique fournie, ce qui permet aux ingénieurs de commencer à évaluer cette technologie immédiatement. La conception est certifiée par la FDA Classe 1, et conforme aux normes de sécurité pour les lasers, IEC/EN 60825-1:2014 et 21 CFR 1040.10/1040.11.

www.onsemi.com

  Demander plus d’information…