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Tektronix présente le système de test paramétrique S530 doté du logiciel KTE V7.1 pour accélérer la production de puces semi-conductrices

Tektronix, Inc., l'un des plus grands fournisseurs mondiaux de solutions de test et mesure, lance aujourd'hui le logiciel KTE V7.1 pour le système de test paramétrique série S530 de Keithley, afin d'accélérer la fabrication de puces semi-conductrices, au moment où le marché mondial en a le plus besoin.

Tektronix présente le système de test paramétrique S530 doté du logiciel KTE V7.1 pour accélérer la production de puces semi-conductrices
Tektronix présente le système de test paramétrique S530 doté du logiciel KTE V7.1 pour accélérer la production de puces semi-conductrices.

Parmi les nouvelles options disponibles pour la première fois dans la version KTE V7.1, citons une nouvelle capacité de test en parallèle et une option unique de test de capacité haute tension, destinée aux applications émergentes de puissance et à large bande interdite. KTE V7.1 améliore les temps de test de plus de 10% par rapport à la version V5.8, ce qui va permettre aux ingénieurs de réduire les temps d’arrêt de production et ainsi d’accélérer la production des puces.

L'émergence de la 5G et la croissance de l'IoT alimentent la demande mondiale en semi-conducteurs. Les pénuries mondiales appellent une augmentation de la production, mais aussi une capacité à tester plus rapidement les nouvelles puces en cours de développement. Le lancement par Tektronix de ce nouveau système de test va contribuer à accélérer la fabrication en réduisant les temps de test, et donc contribuer à commercialiser plus rapidement les nouvelles puces.

« Les technologies émergentes de semi-conducteurs analogiques, à large bande interdite (SiC et GaN) et de puissance d'aujourd'hui nécessitent des tests paramétriques pour maximiser les performances de mesure, couvrir un éventail de produits plus large, et minimiser les coûts, » explique Peter Griffiths, Directeur Général, Systèmes & Logiciels chez Tektronix. « Nos clients, parmi lesquels se trouvent les plus grands fabricants de puces au monde, vont apprécier les améliorations apportées par KTE V7.1 qui vont permettre à leurs ingénieurs de continuer à innover à un rythme soutenu pour répondre aux demandes de marchés en pleine évolution. »

La sortie de KTE V7.1 s'appuie sur les améliorations apportées au système S530 en termes de fonctionnalité et de débit depuis la sortie de KTE 7.0. La nouvelle conception de la tête de test offre une grande flexibilité grâce à la possibilité d’utiliser différentes cartes de sonde. L’ensemble du logiciel et du matériel à la dernière version permet de réaliser des tests en un seul passage et ainsi d'obtenir une productivité élevée. En ce qui concerne le service, l'unité de référence système (SRU) récemment introduite réduit le temps d'étalonnage à moins de huit heures, ce qui signifie que celui-ci peut être réalisé en une seule équipe horaire. Les SRU peuvent être achetés directement ou par le biais d’un abonnement de service annuel SSO.

Améliorations marquantes et premières dans le secteur

La possibilité de test en parallèle améliore encore la productivité et réduit le coût des tests.
Disponible pour la première fois en option avec la version KTE V7.1, le S530 est désormais doté d'une puissante option de test en parallèle, qui améliore encore la productivité et réduit les coûts de test avec une marge d'amélioration prévue de 30% (en fonction des tests et des architectures). Basé sur l'architecture matérielle unique du S530 qui permet à huit SMU haute résolution de se connecter à n'importe quelle broche de test via n'importe quel port/rangée Kelvin du système, le logiciel de test parallèle de Keithley optimise le rendement de toutes les ressources système afin de maximiser le débit de test.

Possibilité unique de test de capacité haute tension adaptée aux applications émergentes de puissance et à large bande interdite
Les ingénieurs d'aujourd'hui en besoin de tester des dispositifs haute tension. Il existe une demande croissante de puces offrant des vitesses de commutation plus élevées et une commutation avec moins de pertes. Offrir un rendement plus élevé ne fait pas que réduire la consommation et l'échauffement. C'est également meilleur pour l'environnement. Pour tester ces dispositifs à large bande interdite aux tensions opérationnelles les plus élevées, les ingénieurs doivent passer du laboratoire de R&D à la fabrication. Avec la sortie de KTE V7.1, l'option spéciale Haute tension de capacité (HVCV) est une offre unique en association avec la seule solution de test en une passe du marché, capable de mesurer entre 200 et 1000 V, en offrant la possibilité de tester des capacités présentant jusqu'à 1100 V de polarisation CC. Cette fonctionnalité utilisable en production autorise des mesures précises de Cdg, Cgs et Cds permettant d'assurer la caractérisation et le test des performances transitoires d'entrée et de sortie d'un dispositif de puissance.

Testez jusqu'à 1100 V sur n'importe quelle broche en une seule prise de sonde
En plus de pouvoir fournir et de mesurer jusqu'à 1100 V, jusqu'à deux 2470 SMU peuvent être configurés dans un même système S530-HV, et la matrice de commutation haute tension à l'intérieur du S530-HV permet à l'utilisateur d'effectuer des mesures à tout moment, sur n'importe quelle broche de test. Cela procure un maximum de souplesse pour répondre aux différents brochages d'un large éventail de dispositifs et de structures de test, tout en éliminant les goulots d'étranglement et les coûts plus élevés en production associés aux tests en deux passes ou aux approches sur broches dédiées.

Disponibilité
Le système de test paramétrique série S530 est désormais disponible dans le monde entier. Les prix sont disponibles sur demande. Pour plus d’information, visitez tek.com/keithley-semiconductor-parametric-test-systems.

www.tek.com

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