Siemens présente un logiciel de caractérisation des semi-conducteurs basé sur l’IA

Siemens Digital Industries Software a lancé Solido Characterizer, une nouvelle plateforme logicielle pilotée par l’intelligence artificielle conçue pour accélérer les flux de travail de caractérisation des bibliothèques de semi-conducteurs sur des nœuds de procédés matures et avancés. Le logiciel fait partie de la Solido Characterization Suite et cible les fonderies ainsi que les équipes de conception de circuits intégrés développant des bibliothèques Liberty de synchronisation et de puissance basées sur SPICE pour les dispositifs semi-conducteurs.

Cette annonce reflète la demande croissante de l’industrie pour des processus de caractérisation plus rapides, alors que les conceptions de semi-conducteurs deviennent plus complexes et que les technologies de procédé introduisent des marges électriques plus étroites, un plus grand nombre de corners et des formats de modélisation avancés tels que le Liberty Variation Format.

Accélération par IA pour la génération de fichiers Liberty
La caractérisation des bibliothèques constitue une étape essentielle du développement des semi-conducteurs au cours de laquelle des modèles de synchronisation, de puissance et de variation sont générés pour être utilisés dans les flux de travail d’automatisation de la conception électronique. Ces fichiers Liberty sont utilisés tout au long des գործընթաց de mise en œuvre et de vérification des puces afin de modéliser le comportement des cellules dans différentes conditions de tension, de température et de procédé.

Selon Siemens, Solido Characterizer utilise des techniques prédictives d’IA pour accélérer la caractérisation multi-PVT et la génération avancée de LVF, réduisant ainsi le temps de génération des fichiers Liberty de plusieurs semaines à quelques jours. L’entreprise a déclaré que le logiciel offre un débit jusqu’à sept fois supérieur grâce à une combinaison de moteurs de caractérisation basés sur l’IA et de technologies de simulation accélérées par IA.

Le moteur de caractérisation fournirait une augmentation de vitesse allant jusqu’à cinq fois pour les tâches de caractérisation du silicium, tandis que le simulateur Solido LibSPICE apporte une amélioration supplémentaire des performances de deux fois. Siemens a indiqué que cette approche combinée maintient une précision de corrélation SPICE de niveau production tout en améliorant l’évolutivité de la caractérisation sur différents nœuds semi-conducteurs.

Flux de travail pilotés par l’IA pour la conception de semi-conducteurs
Le logiciel s’intègre à Solido Analytics afin de fournir une surveillance en temps réel de l’assurance qualité, le suivi des ressources, une assistance au débogage et une gestion automatisée des reruns pendant les flux de travail de caractérisation.

La complexité de la caractérisation des semi-conducteurs continue d’augmenter à mesure que les technologies de procédé avancées introduisent des ensembles de données de modèles plus volumineux, davantage de corners opérationnels et des exigences de validation plus strictes. L’automatisation assistée par IA est de plus en plus adoptée dans les environnements EDA afin de réduire la surcharge de simulation et d’accélérer les cycles d’itération de conception.

Solido Characterizer s’intègre également au système Fuse EDA AI afin de prendre en charge des flux de travail d’IA générative et agentique pour les tâches de caractérisation. Siemens a déclaré que la plateforme peut fonctionner conjointement avec Solido Generator, qui utilise des données Liberty de référence pour entraîner des modèles d’IA capables de générer des vues de bibliothèque supplémentaires sans nécessiter de simulation SPICE complète.

Ces approches visent à réduire les goulets d’étranglement de la caractérisation dans les flux avancés de conception de semi-conducteurs où plusieurs blocs IP et de grandes équipes de conception nécessitent un accès rapide à des bibliothèques prêtes pour le signoff.

Prise en charge des technologies de procédé avancées
Le logiciel est conçu pour prendre en charge les exigences de caractérisation sur une large gamme de technologies semi-conductrices, y compris les nœuds matures et les procédés de fabrication avancés.

Les nœuds avancés de semi-conducteurs nécessitent une caractérisation de plus en plus détaillée car les géométries réduites et les tolérances électriques plus strictes rendent les performances des circuits plus sensibles aux variations de procédé, aux fluctuations de tension et aux effets thermiques. Les techniques de modélisation LVF sont de plus en plus utilisées pour capturer les variations statistiques de synchronisation dans les conceptions avancées de circuits intégrés.

Siemens a déclaré que Solido Characterizer est destiné à prendre en charge des flux de travail de caractérisation évolutifs pour les organisations gérant simultanément plusieurs groupes de conception et de grands portefeuilles IP.

Déploiement et vérification dans l’industrie
GlobalFoundries a déclaré que son déploiement interne de la Solido Characterization Suite a permis la création de fichiers Liberty de qualité production et de marges de conception tout en maintenant la précision de corrélation SPICE. Selon l’entreprise, le flux de travail de caractérisation a permis d’obtenir des améliorations internes de vitesse d’environ 20 à 30 %.

Anatrix Inc. a également mentionné l’utilisation des outils EDA de Siemens dans les flux de travail de caractérisation pour des bibliothèques de portes numériques durcies contre les radiations et la vérification d’IP analogiques mixed-signal.

Tendances de l’IA des semi-conducteurs et de l’automatisation EDA
L’intégration de l’IA dans les flux de travail d’automatisation de la conception électronique se développe rapidement alors que les entreprises de semi-conducteurs cherchent à réduire les délais de développement et à gérer la complexité croissante des conceptions associées aux accélérateurs IA, aux dispositifs de calcul haute performance, à l’électronique automobile et aux systèmes de communication avancés.

Les flux de travail de caractérisation figurent parmi les parties les plus intensives en calcul du développement des bibliothèques de semi-conducteurs, car ils nécessitent des simulations SPICE à grande échelle dans de nombreuses conditions de procédé et environnementales. Les plateformes de caractérisation assistées par IA visent à réduire ces exigences computationnelles tout en maintenant une précision de modélisation de niveau signoff.

Siemens a déclaré que Solido Characterizer est disponible immédiatement et sera présenté lors de l’événement U2U EU de l’entreprise qui se tiendra le 12 mai 2026 à Munich, en Allemagne.

Édité par Natania Lyngdoh, rédactrice d’Induportals, avec l’assistance de l’IA.

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