Le système de lecture répond aux exigences d'indentification des wafers

L'efficacité des processus de production dans le secteur des semi-conducteurs repose un suivi précis des wafers à travers des étapes de fabrication et d'emballage. Les wafers non identifiés ou les échecs de lecture provoquent des perturbations sur les lignes, exigent une intervention manuelle et augmentent les coûts.

Le système d'identification de la gamme In-Sight 1750 entend répondre à ces défis en associant une technologie OCR reposant sur une technologies Edge AI avec des algorithmes de lecture de polices et de codes basés sur des règles. Il est capable de traiter des marquages dégradés sur des substrats spécifiques tels que le silicium, le nitrure de gallium, le carbure de silicium, le saphir et le verre.

Intégration optique et IA en périphérie
La configuration matérielle comprend un capteur d'image de 2 mégapixels présentant un champ de vision de 38 millimètres pour capturer des données à haute résolution sur diverses géométries de wafers. L'éclairage multimode combine des LED rouges, vertes et bleues pour générer des images en fond clair et en fond noir, résolvant ainsi les marquages à faible contraste causés par la planarisation chimico-mécanique ou l'élimination des bourrelets de bord.

Une fonction d'autocalibrage intégrée par IA ajuste dynamiquement les paramètres d'éclairage et les filtres d'image en temps réel en fonction des performances de lecture historiques. Ce mécanisme s'adapte à la dégradation des marquages sur les lots de production sans nécessiter de recalibrage manuel par l'opérateur.

Intégration et avantages de production
Compatibe avec les systèmes de la gamme In-Sight 1740, cette solution conserve des interfaces de montage identiques pour rationaliser les mises à niveau des installations. Les configurations de tâches existantes se convertissent directement vers la nouvelle plateforme, minimisant les temps d'arrêt de la ligne lors des phases de transition. Une interface de configuration basée sur le Web favorise un déploiement rapide et un journal de lecture automatisé permet d'assurer le respect des normes de contrôle des processus.

Contexte additionnel :
Cette section détaille les spécifications techniques et les analyses comparatives non incluses dans l'annonce de produit originale

Le système d'identification de la série In-Sight 1750 met en oeuvre un capteur d'image CMOS de 1/2,8 pouce offrant des vitesses d'acquisition allant jusqu'à 41 images par seconde selon le modèle. Les protocoles de communication pris en charge comprennent TCP/IP, In-Sight Native Mode, TEL et TSK via une interface Ethernet 10/100/1000 Base-T.

Comparé aux lecteurs de codes-barres industriels standard ou aux caméras de vision artificielle qui reposent uniquement sur des filtres fixes basés sur des règles, système d'identification de la série In-Sight 1750 combine un éclairage en fond noir à plusieurs longueurs d'onde avec une reconnaissance optique de caractères basée sur des réseaux de neurones. Cette approche double génère des taux de réussite de première lecture plus élevés sur les substrats de semi-conducteurs hautement réfléchissants ou transparents, où les algorithmes traditionnels basés sur des seuils connaissent des taux d'échec élevés.

Publié par Sucithra Mani, rédactrice pour Induportals – contenu adapté par IA.

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